发布者：分析测试中心，发布时间：2023-03-13，动态浏览次数：132
型号：FEI Tecnai G2 F20
存放地：E101
管理人员：谢玄 崔淑珍
仪器简介：2014年购置，美国FEI公司生产，用于材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面和缺陷等方面的测试与分析。可测试TEM、HRTEM、EDX、STEM等。
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